卫星关键电子部件空间辐射效应测试评估及防护设计
航天器的关键部件和复杂集成电路，如DC/DC变换器和微处理器(CPU)，在空间辐射环境中易受到辐射效应的影响，对航天器的可靠运行和任务实现带来严重威胁。如何降低辐射效应对电子设备的影响，是设计师们所关注的问题。本短期学习教程主要围绕DC/DC变换器和微处理器(CPU)展开，深入讨论和分析空间辐射环境对它们的辐射敏感性和效应的危害性，如何进行测量和表征以及有效防护设计等问题。通过学习和讨论，了解关键部件或复杂集成电路辐射效应对航天器电子设备的危害性，掌握分析和防护设计方法，提高电子设备在空间辐射环境中的生存能力，更好地保障其在轨安全工作。

授课内容：

一、DC/DC变换器空间辐射效应及防护设计
1.引言
1.1空间辐射环境概述
1.2概念及术语
1.3设计中面临的问题
1.4电离总剂量效应
1.5单粒子效应；
2. DC/DC概述
2.1开关电源介绍
2.2航天器常用DC/DC类型
2.3性能和技术发展
2.4空间应用的要求
2.5其它特性及问题
3. DC/DC变换器电离总剂量效应(TID)
3.1 DC/DC空间电离总剂量敏感性
3.2 关键部件的TID特性及测试
3.2.1 功率MOSFET的电离总剂量效应及危害
3.2.2 脉宽调制器的电离总剂量效应及危害
3.2.3 放大器的电离总剂量效应及危害
3.2.4 增强低剂量率效应（ELDRS）
3.3 DC/DC变换器电离总剂量效应(TID)测试及评估
3.4 地面及空间飞行试验测试结果举例
4. DC/DC变换器单粒子效应(SEE)
4.1DC/DC变换器SEE危害性分析
4.2线性电路的单粒子瞬态现象(SET)
4.3单粒子锁定(SEL)
4.4MOSFET的单粒子烧毁(SEB)
4.5MOSFET的单粒子栅击穿(SEGR）
4.6DC/DC变换器单粒子效应测试方法
4.7地面及空间飞行试验测试结果举例
5.DC/DC变换器电离总剂量效应防护设计
5.1器件及工艺的选择