易企秀平台为您呈现的H5作品【eView全自动晶圆缺陷复查设备交付】，聚焦于首台国产eView全自动晶圆缺陷复查设备交付仪式的盛况。该作品由易企秀在线设计工具制作，利用平台丰富的模板资源，快速构建出富有视觉冲击力的内容。作品详细介绍了eView全自动晶圆缺陷复查设备的功能，包括全自动缺陷复查和分类、高分辨率电子束成像能力、超低电压EDX分析以及Die-to-GDS缺陷检测等，适用于满足10nm集成电路工艺制程的需求。2021年7月13日，在上海精测半导体技术有限公司，这场交付仪式见证了国产集成电路设备的又一重要里程碑。